4/10/2017 EMC 

Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

EMC Testing
Part 5 – Conducted Immunity
 
By Eur Ing Keith Armstrong C.Eng MIEE MIEEE, Partner, Cherry Clough Consultants,
Associate of EMC­UK
Tim Williams C.Eng MIEE, Director, Elmac Services, Associate of EMC­UK
 
This  is  the  fifth  in  a  series  of  seven  bi­monthly  articles  on  ‘do­it­yourself’  electromagnetic  compatibility  (EMC)  testing
techniques  for  apparatus  covered  by  the  EMC  Directive  (EMCD).  This  series  covers  the  whole  range  of  test  methods  –
from simple tests for development and fault­finding purposes, through lowest­cost EMC checks; ‘pre­compliance’ testing
with various degrees of accuracy; on­site testing for large systems and installations; to full­specification compliance testing
capable  of  meeting  the  requirements  of  national  test  accreditation  bodies.  Previous  articles  are  available  on­line  at
www.compliance­club.com, using the site’s Archive Search facility.
 
What  is  low­cost  to  an  organisation  with  5000  employees  could  be  thought  fairly  expensive  by  a  company  with  50,  and
might be too expensive for a one­person outfit, but we will cover the complete range of possible costs here so that no­one
is left out. It is important to understand, however, that the more you want to save money on EMC testing or reduce the risk
of  selling  non­compliant  products,  the  more  EMC  skills  you  will  need.    Low  cost,  low  risk  and  low  EMC  skills  do  not  go
together.
 
This series does not cover management and legal issues (e.g. how much testing should be done to ensure compliance
with  the  EMCD).  Neither  does  it  necessarily  describe  how  to  actually  perform  EMC  tests  in  sufficient  detail  to  do  them.
Much  more  information  is  available  from  the  test  standards  themselves  and  from  the  references  provided  at  the  end  of
these articles.
 
The topics covered in these seven articles are:
 
1)  Radiated emissions
2)  Conducted emissions
3)  Fast transient burst, surge, electrostatic discharge
4)  Radiated immunity
5)  Conducted immunity
6)  Low frequency magnetic fields emissions and immunity; plus mains dips, dropouts, interruptions, sags, brownouts and
swells
7) Emissions of mains harmonic currents, voltage fluctuations, flicker and inrush currents; and miscellaneous other tests
 
Table of contents for this Part
 
5   Conducted RF immunity       
     5.1          Non­CE issues with immunity testing           
     5.2          Introduction to conducted immunity testing   
              5.2.1   Injecting a reasonably accurate  RF voltage (or current)
              5.2.2   Preventing leakage        
              5.2.3   The non­linear sensitivity of analogue and digital semiconductors to RF.    
              5.2.4   Determining an ‘engineering margin’        
              5.2.5   Monitoring the EUT to be able to tell when its performance has degraded too much.           
     5.3          Alternative transducers and test methods     
              5.3.1   [unnecessary repetition] Close­field probes          
              5.3.2   Voltage injection probe  
              5.3.3   ‘Crosstalk’ injection techniques  
              5.3.4   Licensed radio transmitters        
              5.3.5   Bulk Current Injection (BCI)
              5.3.6   Direct injection with a CDN        
              5.3.7   The ‘EM Clamp’
              5.3.8   General notes on test set­ups    
     5.4          Signal generators and power amplifiers        
              5.4.1   Alternative types of signal generator        
              5.4.2   RF Power Amplifiers      
     5.5          Correlating alternative test methods with EN 61000­4­6                      
file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 1/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

     5.6          On­site testing       
     5.7          Full compliance conducted RF immunity testing       
              5.7.1   Generator         
              5.7.2   Transducers     
              5.7.3   Calibration and levels     
              5.7.4   Test setup                    
     5.8          References
 
5   Conducted RF immunity
 
Part 0 of this series [1] described the various types of EMC tests that could be carried out, including:
 
   Development testing and diagnostics (to save time and money)
   Pre­compliance testing (to save time and money)
   Full compliance testing
   ‘Troubleshooting’ to quickly identify and fix problems with compliance tests, or with interference in the field
   QA testing (to ensure continuing compliance in volume manufacture)
   Testing of changes and variants (to ensure continuing compliance).
 
And Part 0 also described how to get the best value when using a third­party test laboratory [1].
 
This  part  of  the  series  focuses  on  testing  continuous  conducted  radio­frequency  (RF)  immunity,  sometimes  called
conducted  electromagnetic  susceptibility  (EMS)  to  the  EN  standards  for  typical  domestic  /  commercial  /  industrial
environments. Other kinds of immunity tests may be required for automotive, aerospace, space, rail, marine and military
environments. Over the years these, and other industries, have often developed their own immunity test standards based
on their own particular kinds of disturbances, usually for reliability reasons.
 
IMPORTANT  SAFETY  NOTE:  Some  of  these  tests  involve  electrical  hazards,  particularly  the  outputs  from  RF  power
amplifiers and the cables, connectors and transducers connected to them, and transducers which make direct connection
to the mains supply or other hazardous conductors. Also, performing some of these tests outside a shielded room could
create  interference  problems  for  other  equipment,  possibly  interfering  with  aircraft  communications,  navigational  radio
beacons,  or  automatic  landing  systems  so  could  have  safety  implications.  These  tests  can  be  dangerous,  and  all
appropriate safety precautions must be taken. If you don’t know what safety precautions to take, ask a competent person.
 
The basic EN test methods described here are identical to the basic IEC test methods (e.g. EN 61000­4­6 = IEC 61000­4­
6), so this article may also be of use where non­EU EMC requirements apply.
 
5.1          Non­CE issues with immunity testing
 
See Part 4 of this series [2] for more detail on the following important issues for immunity testing:
 
   Saving costs by early EMC testing (section 4.1).
   Immunity testing for reliability and functional safety (section 4.2).
 
5.2          Introduction to conducted immunity testing
 
Continuous conducted RF immunity testing involves injecting RF voltages or currents into each of the cables associated
with the equipment under test (EUT).
 
The  purpose  of  the  test  is  to  simulate  the  proximity  of  the  EUT  and  its  connected  cables  to  radio  transmitters  and  RF
manufacturing  equipment  operating  at  low  frequencies.  These  frequencies  are  not  easy  to  test  using  the  radiated  RF
immunity techniques described in [2]. It is hard to generate uniform fields in typical test facilities at frequencies much below
80MHz, but for typical sizes of apparatus the immunity problems at frequencies below 80MHz are normally associated with
cable  coupling,  so  conducted  testing  of  the  cables  is  seen  as  a  reasonable  alternative  to  radiated  methods  at  such
frequencies.  Conducted  RF  immunity  testing  is  also  a  lot  less  costly  to  do  properly  than  radiated  RF  immunity,  and
complete systems for full­compliance testing can be purchased for under £15,000.
 
EN 61000­4­6 [3] is the basic EMC test method for conducted RF immunity called­up by the latest editions of harmonised
product or generic immunity test standards. Alternative conducted test methods described here should always follow the
methodology of [3] as far as is practical to help make compliant products.
 
For small products [3] considers it acceptable to use its conducted tests over the range 150kHz to 230MHz, but for larger
products the range is 150kHz to 80MHz. Small products with short cables may not need to be tested to as low a frequency
as 150kHz. See Annex B of [3] for more on frequency ranges versus EUT dimensions. But remember that it will be the
file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 2/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

relevant  EMCD  harmonised  standard  (product  or  generic)  that  specifies  the  frequency  range  and  test  levels  for  a  given
type  of  EUT.  In  general,  when  self­declaring  conformity  to  the  EMCD  using  the  ‘standards  route’  you  will  not  be  able  to
choose your own frequency ranges.
 
A lack in [3] is that it only injects common­mode RF and does not test differential­mode RF even though it can exist on
mains  and  other  types  of  cables.  Differential­mode  RF  noise  is  mostly  an  issue  at  frequencies  under  10MHz,  especially
when switch­mode power converters and other ‘noisy’ technologies are powered from the same mains distribution as the
product concerned.
 
A lack in most of the conducted RF test methods is that in real life all the cables associated with a product will be exposed
to  varying  amounts  of  RF  conducted  noise  simultaneously,  but  the  test  methods  only  inject  into  one  cable  at  a  time.
Clearly,  it  is  possible  for  different  interactions  to  occur  when  more  than  one  cable  has  RF  on  it  –  and  in  real  life  the
frequencies  on  different  cables  can  be  different  and  so  cause  cross­modulation  effects  which  cannot  be  simulated  by
single­frequency testing – so this is a weakness in any of the standardised conducted test methods.
 
However  it  is  possible  to  vary  the  test  methods  described  here  to  test  for  differential­mode  immunity,  and  also  to  test
multiple cables at the same time with the same or different RF stimuli, to help ensure reliability in real applications.
 
There are five main issues in radiated RF immunity testing which are of concern for all the test methods discussed here:
 
   Injecting a reasonably accurate RF voltage (or current) into the EUT’s cables.
   Preventing the tests from ‘leaking’ and possibly causing interference.
   The non­linear sensitivity of analogue and digital semiconductors to RF.
   Determining a reasonable ‘engineering margin’.
   Monitoring the EUT to be able to tell when its performance has degraded too much.
It will help if we discuss these issues before moving on to describe the test methods themselves.
 
5.2.1  Injecting a reasonably accurate RF voltage (or current)
 
[3]  describes  how  to  perform  a  level­setting  procedure  (calibration)  for  each  of  the  three  types  of  test  transducers  it
employs:
 
   Direct voltage injection using coupling­decoupling networks (CDNs).
   Induced voltage injection using the ‘EM Clamp’.
   Induced current injection using ‘Bulk Current Injection’ (BCI).
 
The level­setting procedures described in [3] can be adapted for use with many of the alternative test methods described
here.
 
5.2.2  Preventing leakage
 
When RF voltages or currents are injected onto cables, the cables can act as antennas and re­radiate (‘leak’) them. The
CDNs  and  EM­Clamp  transducers  recommended  by  [3]  provide  significant  amounts  of  decoupling  for  the  (usually  long)
length of the cable on their ‘Ancillary Equipment’ side, to prevent leakage from this part of the cables and also to protect
the ancillary equipment. With these two kinds of transducers, only the cables on their EUT side have high levels of RF on
them, and they are short in any case and so are not usually very efficient antennae below 80MHz.
 
BCI transducers inject currents equally into the cables on both sides, so significant radiation is possible from the longer
cables on the ‘Ancillary Equipment’ side. This leakage can be reduced by adding a large number of clip­on split­ferrite RF
suppressers to the cable on the non­EUT side of the BCI transducer – close to the transducer. Usually a total length of
ferrite of at least 200mm is enough.
 
Some  experts  recommend  that  conducted  immunity  tests  are  always  done  inside  shielded  rooms  or  shielded  tents  (no
need  for  any  RF  absorber  if  the  enclosure  is  room­sized)  to  prevent  leakage  from  the  cables  /  EUT  from  causing
interference problems, whilst others seem to find that leakage is low enough not to need a shielded room.
 
Perhaps  the  best  approach,  if  a  shielded  room  is  not  already  available,  is  to  consider  whether  there  are  sensitive
electronics or radio receiver antennas near to where the test is to be conducted; whether the conducted testing is going to
use high levels of stimulus (e.g. for ‘industrial’ equipment); and whether frequencies above 80MHz are going to be applied
to large EUTs, or above 230MHz to any size of EUT. If any of these are true it would be best to do these conducted tests
inside a shielded room or shielded tent. Tents have the advantage that they are easily movable and can be packed away
when not in use.
 
5.2.3  The non­linear sensitivity of analogue and digital semiconductors to RF

file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 3/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

 
The problems of test repeatability would be bad enough if electronic circuits responded linearly to variations in the fields.
But  both  digital  and  analogue  devices  respond  non­linearly  (typically  a  square­law  demodulation  response,  sometimes
called rectification). As a result, even small variations in the level of the injected RF voltage or current or in the set­up of
the EUT and its cables can make the difference between a good pass and a bad fail.
 
See section 4.3.2 of Part 4 of this series [2] for more on this issue and its very important implications for test repeatability
and engineering margins.
 
[3]  uses  a  modulated  waveform:  a  1kHz  sine­wave  modulation  with  80%  depth.  Because  of  the  non­linear  response  of
analogue  and  digital  circuits  due  to  demodulation  an  80%  increase  in  RF  level  (at  the  peak  of  the  modulation)  can
translate  into  a  224%  increase  in  circuit  error.  So  all  the  alternative  test  methods  described  here  should  use  similarly
modulated test stimuli.
 
5.2.4  Determining an ‘engineering margin’
 
Even  having  [3]  fully  applied  by  accredited  test  laboratories  cannot  guarantee  that  a  given  EUT  and  its  cables  will  be
exposed to exactly the same RF stimuli (say, within ±3dB) each time it is tested. So, because of the non­linear sensitivity
of  analogue  and  digital  circuits  to  RF  and  because  serially­manufactured  products  have  variable  immunity  performance
due to component and assembly tolerances (often uncontrolled for EMC), an ‘engineering margin’ is recommended.
 
When testing an example product to [3] in a fully compliant manner, at least a 6dB higher test level  (e.g. 6Vrms instead of
3Vrms)  is  suggested,  with  the  product  still  meeting  its  required  functional  specifications.  Where  there  are  significant
differences  in  the  test  method  compared  with  [3],  a  much  larger  engineering  margin  is  recommended,  as  indicated  by
Figure 5A.
 

 
It  is  clear  that  saving  costs  by  using  alternative  radiated  immunity  test  methods  can  lead  to  over­engineering.  The
additional  cost  to  make  the  product  pass  the  alternative  test  method  with  the  necessary  engineering  margins  should  be
weighed against the cost of doing the testing properly.
 
5.2.5  Monitoring the EUT to be able to tell when its performance has degraded too much
 
The  functional  performance  degradation  allowed  during  and  after  conducted  RF  immunity  tests  may  be  specified  by
product­family  standards  (e.g.  EN  55024),  but  if  applying  the  generic  standards  EN  50082­1  or  EN  50082­2  all  that  is
necessary is that the performance is no worse than the specification in the manufacturers ‘data sheet’ for the product –
which should represent what its users would find acceptable given the marketing claims for the product.
 
Thought should be given to how the functional performance of the product is to be tested, especially if it is to be tested in a
shielded room with no observers inside. See section 4.3.5 of [2] for more on this.
 
5.3          Alternative transducers and test methods
 
Alternative  conducted  RF  immunity  test  transducers  and  methods  can  be  used  for  all  the  six  test  purposes  listed  in  the
introduction to this article. For some test purposes the alternative methods described here will have some advantages over
[3].
 

file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 4/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

For all but compliance and ‘pre­compliance’ tests, using an uncalibrated test (for which the quantitative measurement is
not traceable to the national physical standards) is not very important. But it is very important for any tests to be repeatable
– so consistency is required in the test equipment and test methodology. Refer to section 5.5 for more in this.
 
When doing remedial work after an immunity test failure, you will know which frequencies the EUT fails at and can test at
only  those  frequencies  to  find  the  problem  areas  most  quickly.  However,  when  you  make  any  changes  to  fix  the  known
immunity  problems  you  then  need  to  test  over  the  full  frequency  range,  in  case  all  you  have  done  is  ‘re­tuned’  the
problems so they appear at different frequencies.
 
During  design  or  development  testing,  always  try  to  reproduce  the  final  assembly  of  the  circuit  being  tested  (shielding,
earth bonding, proximity to metal objects or structures, etc.), as the stray inductances and capacitances in the final build
state can have a dominant effect on the RF behaviour of the circuit. And always carefully record all the details of the test
set­up in the test documentation (photographs can be very useful).
 
5.3.1  Close­field probes
 
The  close­field  magnetic  and  electric  field  probes  described  in  section  1.1  and  Figures  1,  2,  3,  4  of  [1]  can  be  used  as
localised  sources  of  disturbances  in  RF  immunity  tests.  They  can  be  very  useful  indeed  for  design  and  development
testing on ICs and PCBs, and for localising the immunity problems discovered on a ‘proper’ immunity test.
 
Although loop probes generate local fields rather than inject voltages or current directly into a circuit, they are still effective
at  discovering  which  circuits,  transistors  or  ICs  will  be  vulnerable  to  the  conducted  RF  immunity  tests.  For  frequencies
between  10  and  100MHz    loop  probes  will  generally  need  to  be  around  50mm  diameter.  At  frequencies  below  30MHz,
multi­turn loop probes can be used to apply higher levels of RF stimulus to the EUT without needing unwieldy probe sizes
or powerful amplifiers. See section 4.4.1 of [2] for more detail on using close­field probes.
 
5.3.2  Voltage injection probe
 
‘Pin’  probes  similar  to  the  one  shown  in  Figure  2  of  [1]  can  be  used  to  inject  RF  signals  directly  into  conductors  and
component leads, and are useful for design and development testing on ICs and PCBs, and for identifying the locations of
problems that cause compliance test failures.
 
They will need to use a high­voltage Class Y capacitor when injecting into mains or other high voltages. Use capacitors of
around 100nF for frequencies up to 1MHz, 10nF for up to 10MHz, and 1nF for up to 100MHz. If the load that this adds
affects  the  circuit’s  operation,  smaller  capacitors  should  be  used  (say  down  to  1nF,  100pF,  10pF  respectively)  although
these may require a higher RF drive voltage at lower frequencies.
 
For more on using these probes, see section 4.4.2 of [2].
 
5.3.3  ‘Crosstalk’ injection techniques
 
Another way to inject RF into cables is to drive RF into a length of wire laid close to the cable being injected into, or into a
capacitive clamp normally used for fast transient burst testing to EN 61000­4­4, or a length of shielded “Zippertubing”, or
aluminium or copper foil wrapped around the cable. The capacitive coupling of the wire method might prove inadequate to
inject enough current at lower frequencies. For more on this see section 4.4.3 of [2].
 
5.3.4  Licensed radio transmitters
 
Licensed radio transmitters can be used, providing they operate in the right frequency band for the conducted tests. They
should be used in exactly the same way as described in section 4.4.4 of [2] for radiated RF immunity tests, and have the
same problems and limitations.
 
5.3.5  Bulk Current Injection (BCI)
 
BCI  is  a  useful  test  method  as  it  is  so  easy  to  clamp  its  current­injection  transducers  (essentially  simple  RF  current
transformers) over the cables to be tested. It is a favourite technique in the aerospace, military and automotive industries,
and appears as a formal test method in some of their EMC standards (e.g. DO160 for civil aircraft, DEF STAN 59­41 Part 3
test  DCS02,  available  from  http://www.dstan.mod.uk/home.htm  for  military  equipment;  SAE  J1113­4  and  ISO  11452­
4:1995 for motor vehicles). It is also an alternative test method in [3] and its use for compliance testing is described later in
this article.
 
Clearly,  aircraft  and  vehicles  don’t  have  mains  or  data  cables  trailing  behind  them,  but  the  aerospace,  military,  and
automotive  industries  use  BCI  because  it  helps  them  ensure  that  after  they  have  installed  new  electronic  systems  their
vehicles will still meet their whole­vehicle radiated immunity tests. They use it as a design/development test tool as much
as for final compliance testing.
file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 5/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

 
What  they  do  is  to  expose  their  aircraft,  battle  tank,  motor  car  (or  whatever)  to  RF  fields  and  measure  the  resulting  RF
currents  in  their  wiring  harnesses.  Scaling  factors  are  calculated  for  each  harness  [4]  so  that  if  the  vehicle  needs  to
withstand, say, 30V/m at a given frequency the level of the RF currents in the relevant wiring harnesses can be calculated
and used as a test specification for the electronic units which will connect to those harnesses.
 
The Rover Advanced Technology Centre at Warwick University have produced a software product that will control a BCI
test on the cables of an electronic system and analyse the results to give a statistical likelihood of the new system passing
a whole vehicle radiated­field test [5], [6].
 
Clearly,  this  technique  can  be  used  by  other  industries  to  help  save  time  and  costs  in  the  system  integration  and
compliance  stages  of  a  project.  It  can  also  be  used  to  help  localise  compliance  test  failures  down  to  individual  wiring
harnesses in an apparatus, and then to the individual electronic units connected to the wiring harness.
 
The ‘traditional’ test method for the kind of BCI testing described above is shown in Figure 5B. One RF current transformer
(a clip­on device) is used to induce a current in the cable being tested, while a second clipped­on RF current transformer
samples the cable’s injected RF current and sends a signal to the feedback control circuit of the signal generator or power
amplifier  to  ensure  that  the  specified  current  is  injected  regardless  of  the  cable’s  RF  impedance.  This  type  of  RF  level
control is often called a ‘levelling loop’.

 
Proprietary  BCI  transducers  from  a  number  of  companies  (e.g.  EMC  Hire  Ltd)  can  be  used  for  BCI  testing.  Figure  5C
shows  two  BCI  probes  being  used  on  an  automotive  wiring  harness  by  the  Rover  Advanced  Technology  Centre    –  one
probe driven from an RF power amplifier to inject the current and the second probe for the levelling loop.
 

 
The home­made current probe shown in Figure 5 of [1] can be used as either the injection or sensing current clamp in a
BCI  test,  although  as  shown  it  will  not  be  very  effective  at  frequencies  below  10MHz.  Good  injection  and  sensing
performance  below  10MHz  generally  needs  much  larger  ferrites  and/or  ferrite  materials  with  better  low­frequency
performance.  Multi­turn  windings  can  avoid  the  need  for  high­voltage  drive  (i.e.  more  expensive  RF  amplifiers).  If  it  is
wished  to  extend  the  frequency  range  below  100kHz  silicon­iron,  mu­metal  or  other  types  of  metal  cores  may  be  better
than ferrite.
file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 6/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

 
The current clamps are usually attached to the cables as close to the point where they enter the EUT as possible, so that
cable losses do not attenuate the higher frequencies before they get to the EUT’s circuits.
 
The typical use of BCI is to inject a common­mode current into a cable or cable bundle to simulate an illuminating RF field,
but  it  can  also  be  used  on  individual  conductors  within  a  cable  or  a  bundle  to  simulate  conducted  differential­mode
disturbances,  for  example  from  other  electronic  units  connected  to  the  same  conductors.  This  can  be  very  useful  for
developing  the  conducted  RF  emissions  specification  for,  say,  a  new  switch­mode  power  converter  that  is  to  share  the
same AC or DC power distribution as existing instrumentation.
 
When BCI is used to test cables external to an EUT as an alternative to radiated field testing of the EUT, for simplicity’s
sake you can assume that the common­mode impedance of the cables is 150. Then convert the V/m field strength into
Amps rms of injected current by merely dividing the V/m by 150. The conversion factor is thus 6 to 7mA/V/m. So 3V/m is
considered to be equivalent to between 18 and 21mA rms of injected RF current.
 
The  assumption  of  150  common­mode  RF  impedance  may  not  be  true  where  there  are  cable  resonances,  when  the
impedance can become very high, or very low. BCI testing with a levelling loop can be fooled by cable resonances – high­
impedance  resonances  cause  the  RF  power  amplifier’s  output  to  rise  to  try  to  achieve  the  set  test  current,  possibly
requiring  a  very  powerful  amplifier  to  avoid  clipping  of  the  waveform.  This  situation  is  unrealistic  of  most  real  life
electromagnetic environments so could create a severe over­test situation.
 
In  a  similar  way,  a  low­impedance  cable  resonance  can  cause  the  test  current  to  be  too  low  compared  with  real­life,
possibly causing an undertest situation (although using 6 or 7mA of injected current per V/m of field strength appears to be
high enough in most applications for undertesting not to be a concern). But where BCI is used to simulate differential­mode
conducted disturbances, such as switch­mode converters operating from the same mains supply (instead of simulating the
effects  of  external  fields)  the  actual  source  impedance  of  the  ‘noise’  can  be  very  low  indeed,  especially  at  frequencies
below 1MHz, so the current injected into a low­impedance resonance can be very high. This needs to be considered when
planning the test, and suitably powerful RF amplifiers and BCI transducers obtained.
 
[3]  and  DEF  STAN  59­41  DCS02  attempt  to  get  around  these  ‘traditional  BCI’  overtest/undertest  problems  by  using  a
substitution  method  to  set  the  RF  drive  levels,  and  by  doing  away  with  the  levelling  loop.  A  record  is  kept  of  the  drive
voltages  needed  at  the  various  test  frequencies  to  inject  the  desired  test  current  into  a  short  (non­resonant)  cable
terminated  in  50  (a  calibration  piece).  The  drive  voltages  associated  with  each  test  frequency  are  then  simply  ‘played
back’  into  the  actual  cable  to  be  tested  without  using  a  second  probe  in  a  levelling  loop.  More  detail  on  using  BCI  for
compliance testing is provided later in this article.
 
Of course, the substitution method means that the actual currents in the tested cables can vary considerably from those
originally  generated  in  the  calibration  piece,  but  this  test  method  is  less  likely  to  over­test  and  is  arguably  more
representative of real­life exposure to RF fields. This method is also a little bit closer to the EN 61000­4­3 method used for
compliance testing for radiated fields, so will help when BCI is used as an alternative to radiated field testing (e.g. for the
on­site testing of large installations).When doing compliance­related  tests some labs have been known to make the error
of  using  a  levelling  loop  instead  of  the  substitution  method,  despite  [3]  being  quite  clear  on  this  point.  Since  the  CE
marking  of  a  product  is  always  the  sole  responsibility  of  its  manufacturer  (and  never  the  test  lab  that  they  used),  it  is
always a good idea to check that your test labs employ the correct methods.
 
If  using  BCI  to  simulate  differential­mode  conducted  disturbances  from  equipment  sharing  the  same  mains  supply  (for
example) the substitution method as described above (and later in this article) may need to be modified accordingly, and it
may be that the levelling loop method is more appropriate. Such tests are not required for compliance (yet) so there are no
standard methods.
 
One problem with BCI is that it has no directionality – so it tests the ancillary equipment required to exercise the EUT as
much as it tests the EUT itself. Where the ancillary equipment is susceptible it can be protected to some degree by fixing a
200mm or more length of clip­on ferrite suppresser to the ancillary equipment side of the BCI injection transducer. Doing
the BCI testing inside a shielded room and placing the ancillary equipment outside the room, running the interconnections
through filtered bulkhead connectors in the wall of the room, is a good way to protect the ancillary equipment. But unless
special  150  ‘chamber  exit  filters’  are  used  (see  reference  [12]  in  [2])  these  will  dramatically  alter  the  common­mode
impedance of the cable being tested and could make the test unrepresentative.
 
Despite the problems of using conducted test methods to simulate radiated field exposure at  frequencies above 100MHz
(see section 5.2) BCI methods are often employed up to 400MHz – even for large products – where radiated testing is not
feasible (e.g. for on­site radiated immunity testing). When cables are energised with RF they have fields associated with
them and these will search out weaknesses in the EUT itself; although in a fairly uncontrolled manner. To use BCI up to
400MHz with any degree of repeatability it is important to ensure that the cable under test always sits in exactly the centre
of  the  current  transducer,  ideally  with  a  proper  centring  device  but  if  not  by  packing  the  transducer  with  flexible  foam

file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 7/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

plastic. Repeatability of the set­up, especially cable routing, placement of the clamps, and proximity to metal structures is
also  very  important.  Bear  in  mind  that  at  this  frequency  the  half  wavelength  is  37.5cm  –  the  impedance  of  a  resonating
cable passes from minimum to maximum through this distance.
 
Injecting substantial amounts of RF power into typical BCI clamps can cause them to get very hot and even be damaged.
A  ferrite­free  BCI  clamp  was  developed  by  DRA  (now  Qinetiq)  to  handle  high  powers  from  10kHz  to  at  least  400MHz
without overheating, and this was sold by Chase EMC Ltd (Now Schaffner EMC Systems Ltd) as Part No. CIP 9136.
 
5.3.6  Direct injection with a CDN
 
[3] specifies the use of coupling­decoupling networks (CDNs) which directly inject RF voltages into the cables under test.
The CDN method is described in great detail in [3] and later in this article.
 
Typical  CDNs  cost  in  the  order  of  £500  each,  but  it  is  very  easy  to  build  your  own  using  the  guidance  in  [3].  Figure  5D
shows an example of the internal construction of a home­made CDN that worked well up to 230MHz. Scrappy though it
appears,  many  proprietary  CDNs  that  work  well  enough  appear  not  to  be  constructed  with  such  good  attention  to  RF
assembly. In use, the  ground plane of the CDN in Figure 5D was bonded to the ground reference plane with conductive­
adhesive­backed  copper  tape  as  well  as  by  its  braid  strap.  Clearly,  when  used  on  hazardous  voltages  the  circuitry  in  a
CDN can be hazardous to touch so it should be protected by a plastic or earthed metal box. CDNS, like all transducers,
need calibrating, but if you have calibrated RF emissions measuring equipment it is easy to do yourself using the method
described  in  [3].  They  can  also  be  calibrated  easily  using  an  oscilloscope  which  has  a  bandwidth  at  least  50%  higher.
Note: it can be tricky to figure out the voltages you should see on your spectrum analyser or oscilloscope when using the
calibration technique from [3], so take great care to understand what is going on.
 
Don’t forget that CDNs handle several watts of RF power, so make sure their resistors are rated accordingly. Most people
who build CDNs are familiar with the smell of burning resistors. Many EMC test engineers are also familiar with burning
resistor  smells  because  they  tend  to  use  power  amplifiers  which  are  more  powerful  than  required  simply  for  conducted
immunity testing. Accidentally setting the output power to full on such an amplifier can rapidly burn out a CDN.
 

 
CDNs can be used at higher frequencies than [3] as an alternative to radiated test methods, for example for development
or  QA  testing,  or  the  on­site  testing  of  large  systems.  Most  commercial  CDNs  are  only  specified  for  use  up  to  80MHz,
although some are specified at up to 230MHz. Richard Marshall Ltd manufacture a ‘Versatile CDN’ (see Figure 5E) that
can be used for shielded or unshielded cables with from one to a number of conductors, and is also specified for use up to
500MHz [7], [8].
 

file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 8/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

 
Figure 5E
 
For the same stress level, the IEC standards use the same voltage for conducted testing as the field strength in V/m for
radiated. However, the conducted test level is specified as Volts emf, that is the voltage applied into an open circuit load;
the actual voltage applied from 150 into the EUT’s common mode impedance is less. 
 
Remember  that  V/m  are  specified  when  unmodulated,  as  are  Vrms  for  conducted  immunity  tests,  however  the  actual
radiated or conducted immunity tests should use modulated fields or waveforms (1kHz at 80% amplitude modulation depth
preferred) which will have a higher peak level and may measure a different rms voltage.
 
Similar comments to those above on BCI, about the use of the substitution method when doing compliance­related testing
using [3], apply to the use of CDNs as well.
 
5.3.7  The ‘EM­Clamp’
 
[3]  also  specifies  the  use  of  the  ‘EM­Clamp’,  a  transducer  which  was  originally  developed  for  the  Swiss  PTT  and  which
induces RF voltages into the cables under test using a combination of inductive and capacitive coupling. The EM­Clamp
test method is described in detail in [3] and later in this article in the section on full compliance testing.
 
The original model of EM­Clamp was specified for use at up to 100Vrms from 150kHz to 1000MHz so can be used as an
alternative to radiated test methods, for example for development or QA testing, or the on­site testing of large systems. If it
is intended to use an EM­Clamp for such high test levels or high frequencies, it would be as well to check that it meets the
original Swiss PTT specification and has not been ‘value engineered’ so that it is only suitable for testing at up to 80 or
230MHz, or at levels only up to 10Vrms.
 
New EM­Clamps can cost over £2,000, but [3] may give enough constructional detail to allow keen EMC engineers who
are good with their hands to build their own and save quite a bit of money (if they don’t cost their time).
 
Similar comments to those above about the use of the substitution method in compliance­related testing to [3] apply to the
use of the EM­Clamp as well as to BCI and CDNs.
 
5.3.8  General notes on test set­ups
 
For conducted immunity tests to be repeatable, test set­ups must be carefully controlled with, wherever possible, all the
cables associated with the EUT and the EUT itself mounted at a set height (often 100mm) above a ground reference plane
that lies under the EUT and extends beyond it by at least 200mm.
 
The terminations at the other ends of the cables from the EUT should either be to a coupling/decoupling network or to the
specified ancillary equipment, or else be terminated to the ground reference plane in a controlled manner representative of
the intended use of the EUT (a 150 common­mode resistance is often specified).
 
CDNs  are  relatively  expensive  items  to  buy,  given  the  number  of  different  types  that  a  test  lab  may  need  to  cover  the
majority of its customer’s products. Although the CDN is the preferred transducer in [3], some test labs may prefer to use
an EM­Clamp or BCI to avoid the need to stock dozens of types of CDNs. The results from using each type of transducer
on the same EUT will be different, hence different labs may find they get different results. [9] also comments on this source
of uncertainty.
 
file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 9/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

The need to terminate most types of RF power amplifiers (apart from those specifically designed to work with unmatched
loads) has already been mentioned. CDNs built according to [3] include a series impedance of 100 and other types of
transducers may have non­50 impedances which can cause a ‘frequency ripple’ related to the length of their cable from
the (50 output impedance) RF power amplifier. The reflections at the mismatched load termination are the problem, and
they are usually dealt with by connecting a 50 through­line 6dB attenuator in series with the RF drive very close to the
transducer. A further important reason for this attenuator is to ensure that the drive impedance seen by the CDN remains
close  to  50,  so  that  the  test  source  impedance  of  150 is  maintained.    Figure  5F  shows  a  typical  proprietary  6dB
through­line attenuator rated at 20 Watts.
 
 

 
Figure 5F
 
The  RF  power  amplifier  needs  to  be  increased  in  size  to  include  the  losses  in  the  attenuator.  It  is  also  best  to  rate  the
through­line  attenuator  for  the  maximum  power  output  of  the  amplifier  to  avoid  the  possibility  of  damage  to  it  by  over­
dissipation.
 
Because the EUT is not bonded to the ground reference plane during conducted RF tests, the signals that are injected into
one  cable  tend  to  ‘leak  out’  via  other  cables.  Thus,  testing  just  one  cable  port  (e.g.  the  mains)  tends  to  reveal  the
weaknesses  in  all  the  other  cable  ports.  This  is  a  very  useful  feature  that  can  save  a  great  deal  of  time  when  using
conducted RF testing for design/development, troubleshooting or QA purposes.
 
Where a shielded cable is used, it is normal to inject the conducted voltage or current onto just the shield. However, if the
shield  is  not  terminated  at  the  EUT  (as  might  happen  when  following  some  single­ended  shield  terminating  installation
techniques) it may simulate the real­life environment better to inject the RF directly into the cable’s inner conductors and
ignore the unterminated shield. For BCI and EM­Clamp injection this may mean preparing a special cable, while for CDN
injection it will mean using a model which uses an unshielded cable.
 
Continued on next page…
 
Continued from previous page
 
5.4          Signal generators and power amplifiers
5.4.1  Alternative types of signal generator
 
Compliant testing using [3] specifies an RF signal generator that increments its frequency according to specified rules for
step size and dwell time at each step. It might be tempting for low­cost testing, and testing in design/development, fault­
finding, or production QA to just use a simple RF signal generator with manual tuning. But the temptation to save money at
all costs should be tempered by consideration of the testing time required. For some kinds of tests, especially close­field
probing, covering the frequency range from 150kHz to 80MHz (or more) with a manually­tuned signal generator could take
so long to do that it would be a false economy.
 
Happily, most of the RF signal generators manufactured over the last 20 years have a useful degree of automation – even
the low cost ones feature automatic analogue sweeping (or digital synthesiser ‘stepping’) between two frequencies plus a
variety of useful modulation waveforms. Old Marconi 2022s and the like usually have all the features required to minimise
testing  time.  They  can  now  often  be  found  at  very  reasonable  prices  in  second­hand  electronic  equipment  or  radio
amateur shops.

file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 10/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

 
It is especially useful to use a signal generator that ‘sweeps’ or ‘steps’ automatically over the whole frequency range of
interest. When close­field probing, the sweep rate should be fast enough so that several sweeps occur for each position of
the probe, but not so fast that the circuit can’t respond in time to a particular problem frequency. The alternative procedure
for  a  manually  tuned  generator  is  to  set  the  signal  generator  to  one  frequency,  physically  scan  the  EUT  with  the  probe,
reset the frequency, physically scan again, and so on – which can be very time consuming.
 
The  tracking  generators  sometimes  included  with  spectrum  analysers  can  also  be  used  as  sweep  signal  generators  for
conducted immunity testing, but unfortunately they don’t have a modulation feature. For some types of products (e.g. pure
digital products with digital I/Os) modulation might not be crucial, so simply increasing the test level by 80% might allow
the use of a tracking generator. However, for most types of products, especially those with analogue functions, an external
RF modulator would be needed. Rather than use sinewave modulation, the much simpler technique of on/off switching the
RF carrier at a 1kHz rate should be simpler to arrange, remembering to increase the RF level by 80% first.
 
An  alternative  to  sweeping  or  stepping  the  frequency  is  to  use  a  broadband  noise  generator,  such  as  the  RF  ‘comb’
generators or random noise sources used in Comparison Noise Emitters (CNEs) or equivalent available from a number of
manufacturers.  CNEs  (or  equivalent)  are  usually  sold  for  characterising  emissions  test  sites,  and  although  their  output
spectrum may not be very ‘flat’, they are very repeatable.
 
Comb generators can be fairly readily designed and assembled. For a 100MHz top frequency they would typically pass a
square­wave  of  between  100kHz  and  1MHz  through  a  very  fast  switching  device  to  generate  a  very  broad  band  of
harmonics of the basic switching rate. The maximum rise and fall times (t) of the fast switcher set the top frequency (f) of
the comb, according to the rule­of­thumb: f = 1/t. So for example rise/fall times of 3ns are needed for an upper frequency
approaching 100MHz. Note that achieving rise/fall times of 3ns or less with a 5V signal swing requires attention to detail –
RF design and assembly techniques will be needed.
 
It  is  difficult  to  get  a  comb  generator  to  have  a  high  level  of  signal  at  a  high  frequency  due  to  the  natural  roll­off  of  the
amplitude  of  the  harmonics  at  20dB/decade  according  to  the  Fourier  series  for  a  square  wave.  A  single­pole  high­pass
filter after the fast switcher will help compensate for this to create a flatter frequency/amplitude characteristic, but it does
this  by  attenuating  the  lower­frequencies.  For  example,  with  a  1MHz  switching  rate  if  a  level  of  1Vrms  is  required  at
100MHz then either the fast switcher must run from around 100V or the high­pass filter must be followed by an RF power
amplifier.  If  the  fast  switcher  was  running  from  a  5V  rail,  the  RF  amplifier  would  need  a  gain  of  about  30dB.  Figure  5G
shows a block diagram of such a comb generator and indicates the types of spectra that could be expected at each stage.
 
There  is  a  trade­off  between  the  spacing  of  the  frequencies  in  the  comb  and  the  RF  amplifier  gain  or  fundamental
switching voltage. To keep the design simple and avoid high­voltage switching or high­gain RF amplification it may be best
to  use  a  number  of  switching  rates  (e.g.  10kHz,  100kHz  and  1MHz)  to  cover  different  frequency  ranges  (e.g.  100kHz­
1MHz, 1­10MHz and 10­100MHz respectively). The comb spacing that these will be adequate for many applications, but to
be  more  thorough  requires  filling  in  the  gaps  between  the  comb’s  ‘teeth’  by,  for  instance,  modulating  the  switching
frequency by ±6%. It may be possible to use one of the increasingly popular spread­spectrum clock generators instead, if
they can spread the clock frequency by this large a percentage.
 

 
The output from a CNE (or other noise generator) should be isolated from the load by passing it through a broadband RF
amplifier which has enough power to drive a loop probe over the frequency range required. A filter could be fitted between
the CNE’s output and the amplifier’s input to restrict the frequency range of the test, if required.
 

file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 11/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

Schaffner  EMC  Ltd  (now  Schaffner  EMC  Systems  Ltd)  used  to  sell  a  product  called  NSG  420  which  used  a  pseudo­
random  signal  generator  based  on  a  shift  register  with  a  frequency­modulated  clock  to  drive  a  maximum  output  of
320mWrms.  The  power  amplifier  drove  a  current  through  a  ferrite  coupling  clamp  similar  in  principle  to  the  home­made
one shown in Figure 5 of [1] (although more professionally realised, of course). EUT cables were placed in the clamp and
subjected to a broad spectrum of RF stimuli simultaneously, with a flat spectrum over the 1 to 10MHz range. A level control
was provided, as was a bar­graph to indicate the coupled current.
 
The  NSG  420  was  a  useful  low­cost  product  for  design/development,  production  QA,  or  field  testing  to  help  identify  the
causes of ‘gremlins’. Unfortunately it is no longer available as a Schaffner product although it may be worth contacting the
original  designer,  Richard  Marshall,  to  see  if  he  can  help  (email:  richard.marshall@iee.org).  A  keen  electronic  designer
should be able to design and make something similar without a great outlay in components if they don’t mind spending
some time on it.
 
Even  driving  loop  probes  and  current  probes  from  a  Fast  Transient  Burst  generator  will,  to  some  degree,  test  over  the
frequency range covered by typical conducted immunity tests and may be a way to get extra value from equipment you
already own.
 
Section  3.5.4  and  Figure  3J  in  Part  3  of  this  series  [10]  described  the  ‘chattering  relay’  alternative  fast  transient  burst
generator. With a little ingenuity it is possible to use this as a random noise generator to drive a conducted RF immunity
transducer. Note that the spectrum at the sparking contacts is literally DC to daylight (and beyond) so some filtering may
be required.
 
5.4.2  RF Power Amplifiers
 
To  test  using  [3]  at  the  3Vrms  level  required  for  residential,  commercial,  and  light  industrial  environments  may  require  a
power amplifier rated at about 2­3W. For the 10Vrms industrial level power amplifiers of around 15­20W may be required.
 
Simple calculations based on the 150 impedance used by [3] indicates much lower power levels, but they usually forget
the loss in the 6dB through­line attenuator and the nearly quadrupled power required to cope with the peaks of an 80%
amplitude modulated RF waveform; plus the fact that the maximum output power rating of RF amplifiers is usually given
for a certain degree of ‘compression’ – so we need to use an amplifier which is more powerful to achieve the peak test
levels.
 
To  overtest  by  6dB  (to  give  a  good  safety  margin  on  an  accurate  compliance  test)  requires  a  four­fold  increase  in  RF
power, so a 45 or 50W amplifier may be necessary for testing industrial products to [3] using CDNs.
 
Other types of transducers to the CDNs described in [3] are less efficient. The EM­Clamp typically requires three to four
times  the  RF  power  of  a  CDN  for  the  same  actual  test  level.  BCI  clamps,  because  of  their  higher  loss,  are  even  less
efficient.
 
A  problem  with  high­power  amplifiers  is  that  the  transducers  and  any  termination  resistors  or  through­line  attenuators
should be rated to take the full power of the amplifier. Most proprietary CDNs may not be rated for much higher powers
than the 10Vrms of the ‘industrial’ level immunity test, and they are expensive to replace unless you build your own.
5.5          Correlating alternative test methods with EN 61000­4­6
 
When  an  alternative  radiated  RF  immunity  test  method  is  used  for  design,  development,  or  troubleshooting  after  a  test
failure repeatability is very important (even though the correlation with [3] may not be). All such tests will need to follow a
procedure which has been carefully worked out to help ensure that adequate repeatability is achieved.
 
When alternative methods are used as part of a QA programme, or to check variants, upgrades, or small modifications, a
‘golden  product’  is  recommended  to  act  as  some  sort  of  a  ‘calibration’  for  the  test  equipment  and  test  method.  Golden
product techniques allow low­cost EMC test gear and faster test methods to be used with much more confidence. Refer to
section 1.9 of [1] for a detailed description of how to use the golden product correlation method.
 
If  alternative  methods  are  used  to  gain  sufficient  confidence  for  declaring  compliance  to  the  EMCD,  the  golden  product
method is very strongly recommended. Without a golden product or some similar basis for correlating a proper compliance
test (using [3]) with the alternative method actually used, the alternative method can only give any confidence at all if gross
levels of overtesting are applied, and this can result in very expensive products. Refer to 1.9 in [1].
 
The closer a test method is to using the proper test transducers and methodology in [3], the more likely it is that a good
correlation  will  be  achieved.  So  testing  with  a  close­field  probe  (for  example)  can  probably  only  be  correlated  on  a
particular  build  state  of  a  specific  product,  while  EM­Clamp  testing  using  a  pseudo­random  noise  source  instead  of  the
stepped frequency source may be able to be correlated for a range of products from one manufacturer sharing the same
electronic technology and assembly/construction methods.
 
file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 12/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

5.6          On­site testing
Section 10.2.5 of [11] describes the methods that have been developed for on­site testing for conducted immunity. These
are not a great deal different from the three methods used by [3], but BCI is often easier to employ on a site because it
disturbs the cables less.
 
One problem with on­site testing is that it may be impractical to arrange for a ground plane as specified by [3] and as a
consequence  the  parasitics  which  can  have  a  significant  effect  at  the  higher  testing  frequencies  might  not  be  well
controlled.  Although  this  is  often  acceptable  for  a  Technical  Construction  File  for  an  individual  apparatus,  it  is  less
satisfactory if used to predict the conducted immunity of the same or similar type of apparatus on a different site.
Don’t  forget  that  interference,  especially  with  aircraft  or  other  vehicular  systems,  some  machinery  or  process  control
systems,  and  implanted  electronic  devices  such  as  pacemakers,  can  have  lethal  consequences  and  appropriate
precautions must be taken to make sure that nobody’s safety is compromised. It is also a good idea to take precautions
where there is a possibility of significant financial loss being caused by the interference from on­site testing.
 
Where  radiated  emissions  from  on­site  conducted  RF  immunity  testing  could  be  significant  (i.e.  when  the  conductors
injected into are longer than /10 at the highest frequency tested) it may be necessary to shield the system being tested
with a shielded tent. Where there are no safety or financial loss implications of the radiated emissions from the tests and a
shielding tent is not to be used, it may be necessary (for legal testing) to first obtain a special license from the National
Radiocommunications Agency responsible (refer to [12]).
 
5.7 Full compliance conducted RF immunity testing
 
EN/IEC 61000­4­6, the basic test method for “Immunity to conducted disturbances, induced by radio frequency fields”, is a
complex standard which is very easy to misinterpret. This section offers a simplified stroll through the minefield to highlight
the principal requirements. If you are actually doing a full compliance test on anything other than a very simple EUT, you
will almost certainly have to make some compromises and deviations from the letter of the standard. Understanding the
rationale for some of the requirements will enable you to make an informed decision.
 
5.7.1 Generator
 
The basic requirement for the test system is to generate a modulated RF signal of sufficient amplitude, swept or stepped
over  the  frequency  range  from  150kHz  to  80MHz.  The  upper  frequency  range  may  be  extended  by  some  product
standards to 230MHz. The system normally uses a standard GPIB­controlled signal generator feeding a broadband linear
power amplifier of the required power level – Table 1 gives the necessary power levels for a 10V (level 3) test, depending
on transducer. The standard modulation on the signal, as usual, is a 1kHz sinusoidal tone modulated at 80% depth.
 
The  amplifier  must  be  linear  so  that  it  does  not  distort  the  modulated  waveform,  and  so  that  it  does  not  introduce
harmonics of the wanted stress frequency. The specification for harmonic amplitudes is that they should be ­15dBc, that is
15dB  below  the  wanted  frequency  stress  signal  level,  across  the  whole  test  range,  whatever  the  load  conditions  on  the
amplifier.
 
The  output  of  the  amplifier  could  be  coupled  directly  to  the  cable  transducer,  but  as  we  shall  see,  the  common  mode
source impedance of the transducer is affected by the driving impedance, which should be 50. To achieve an accurate
common  mode  impedance  this  50  must  be  carefully  controlled,  but  the  amplifier’s  output  impedance  can  vary  quite
widely.  To  deal  with  this,  an  attenuator  of  at  least  6dB  is  required  between  the  amplifier  output  and  the  transducer.
Naturally,  this  means  that  three­quarters  of  the  amplifier’s  output  power  is  lost  in  this  attenuator  before  it  reaches  the
transducer,  so  the  amplifier  must  be  sized  for  a  four  times  greater  power  level  than  would  be  needed  without  the
attenuator. This factor is allowed for in Table 1.
 
Table 1  Required power levels (from IEC 61000­4­6 table E.1) for 10V emf
 

 
5.7.2 Transducers
 
The  standard  allows  three  types  of  transducer:  the  coupling/decoupling  network  (CDN),  the  EM­clamp  and  the  current
injection probe. It also allows direct injection, that is coupling directly onto the screen of screened cables via a resistor, but
demands  that  a  decoupling  network  is  used  in  addition,  and  frequently  these  are  combined  into  a  CDN  designed  for
particular screened cables.
file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 13/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

 
As  can  be  seen  from  Table  1,  the  CDN  requires  the  least  power  and  is  also  the  most  definitive  method,  since  it
automatically and accurately controls the injected source impedance (specified in Table 2) and the attenuation towards the
AE,  that  is,  the  cable  end  away  from  the  EUT.  Therefore  it  is  the  preferred  choice  of  transducer.  Unfortunately  it  also
requires a specific type of network for each type of cable to be tested, since it needs a direct connection to each line in the
cable.
 
Because  it  is  invasive,  it  may  also  have  a  significant  effect  on  the  signals  carried  in  the  cable,  particularly  if  these  are
broadband.  For  some  types  of  cable,  particularly  mains  and  DC  power,  low  frequency  signals,  audio  telecom,  and  the
more common types of screened cable, it is reasonable to have a variety of CDNs on the shelf which you can select for
particular tests. If you are a product manufacturer and you know you will only be testing certain types of cable, you can
carry CDNs just for these types, but this option isn’t available to a general test house.
 
Table 2  Common mode source impedance specification
 

 
For cables for which CDNs are not “suitable” (and the interpretation of “suitable” is entirely up to the tester) two other non­
invasive  injection  methods  are  provided.  These  use  the  EM­clamp  and  the  current  injection  probe.  The  EM­clamp  (see
Figure  5H)  is  specifically  designed  for  this  test  and  although  it  looks  similar  to  the  ferrite  absorbing  clamp  used  for
emissions tests, it is in fact quite different. It is described in Annex A of the standard and provides both inductive coupling
through a string of ferrites, clamped around the cable, and capacitive coupling via a close­coupled electrode running the
length of the clamp.
 
The two modes of coupling are so designed as to give significant (better than 10dB at some frequencies) directivity, so that
the  AE  end  of  the  clamp  is  reasonably  adequately  decoupled.  It  requires  no  connection  to  the  cable  under  test  and  is
therefore popular for situations where many different types of cable must be tested, and it is also reasonably efficient, as
Table 1 demonstrates. Even so, the common mode impedance is not nearly so well controlled as in the CDN case, and the
directivity and efficiency fall off at the lower frequencies.

 
The third method uses the current injection probe. This is equivalent to the BCI (bulk current injection) method described in
the previous part of this series. The probe is convenient and easy to use but is inefficient compared to the other methods,
needing  a  higher  power  amplifier,  and  provides  absolutely  no  directivity  or  common  mode  impedance  setting.  For  this
reason it should only be used if there is no alternative method.
 
For both EM­clamp and current probe methods, the standard points out that the AE (auxiliary equipment) is part of the test
and should present the proper 150 common­mode impedance and be adequately immune. The first of these is not at all
easy to ensure and the standard describes using a combination of decoupling networks (assemblies of wideband ferrite
sleeves) and CDNs to achieve it. For complex or multiple AEs this becomes cumbersome or impractical and a modification
of the test method involving an extra monitoring current probe is used.
 
5.7.3 Calibration and levels
 
file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 14/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

The  basis  of  the  IEC  61000­4­6  test  is  that  it  uses  a  substitution  method.  That  is,  the  stress  is  calibrated  into  a  fixed
impedance in the absence of the EUT, and then the same power level versus frequency is re­played into the EUT itself.
This method avoids unwarranted peaks or nulls due to variations in the EUT’s common mode port impedance. However, it
requires stability on the part of the generation system and transducers, and it also means that variations between different
transducers  can  contribute  to  the  lack  of  reproducibility  of  the  test.  In  other  words,  both  the  choice  and  quality  of  the
transducer are critical to standardising the test between laboratories.
 
Figure 5J shows the calibration setup for the CDN method. The same setup applies for the EM­clamp, and a modification
to  it  applies  for  the  current  injection  probe.  The  CDN  is  terminated  at  both  its  AE  and  EUT  ports  –  all  wires  shorted
together – with a 150 load, and its input port is fed in exactly the same manner as it will be in the test proper. The EUT
port load is made up of the measuring instrument’s 50 input impedance plus a “150 to 50 adaptor”. This adaptor is
nothing more than a series 100 resistor. Although this resistor and associated connecting parts is obviously a very simple
piece of apparatus, you should remember that its accuracy is fundamental to the accuracy of the set level, and make sure
that it is maintained across the applicable frequency band and at the power levels applied.
The test levels (standard levels are 1V, 3V or 10V) are specified in volts emf: this means voltage into an open circuit, not
the  voltage  that  is  actually  applied  to  the  EUT,  nor  even  that  which  is  observed  on  the  measuring  instrument  during
calibration.  Because  both  source  and  load  impedances  are  known  during  calibration  the  actual  indicated  voltage  for  an
applied  emf  level  can  be  calculated.  For  the  CDN  calibration  jig,  the  source  impedance  is  150, the load impedance is
also 150 and the measuring instrument impedance is 50. The indicated voltage must be multiplied by 3 to allow for the
50­to­150  conversion  and  again  by  2  to  reach  the  open­circuit  voltage,  hence  the  indicated  value  is  1/6th  the  desired
stress level. The current probe calibration jig uses a 50 rather than 150 system and therefore the indicated value is half
the stress level, since no 50­to­150 conversion takes place.
 
 

Once the power level for the required stress value has been established at each frequency then it is stored in software and
re­played  during  the  actual  test.  Modulation  is  not  applied  during  calibration  –  the  test  levels  are  specified  as  the
unmodulated voltage – but it is applied during the test. The standard allows level setting to be applied at the output of the
signal generator, but this of course assumes that the power amplifier is adequately linear and stable. Many test software
suites  use  a  coupler  at  the  output  of  the  power  amplifier,  and  monitor  and  control  on  the  measured  output  power.  This
negates any effects of gain drift in the amplifier. Either method is allowable.
 
This method is of course open­loop; there is no requirement to check the actual applied level during the test, although a
prudent  test  facility  may  leave  a  monitoring  device  in  place  merely  to  confirm  that  nothing  has  broken.  Because  of  the
nature of the substitution method, the indication on this monitor bears no real relationship to the intended stress level.
 
But in the case where clamp injection is used and the 150 AE common mode impedance is not achievable, then clause
7.3  of  the  standard  requires  that  the  applied  current  is  monitored  during  the  test  sweep,  and  limited  if  necessary  to  the
value  that  would  have  been  applied  into  a  common  mode  impedance  of  150,  e.g.  66.7mA  for  a  10V  emf  level.  This
prevents  over­testing  in  situations  where  the  EUT  common­mode  impedance  is  substantially  less  than  150.  It  doesn’t,
though, represent full closed­loop testing.
 
5.7.4 Test setup
 
Figure  5K  shows  an  example  test  set­up  for  compliant  conducted  RF  immunity  tests  to  EN  61000­4­6.  The  important
aspects of the test setup are to control the common mode impedance presented by the transducers, the EUT and its AE,
and to ensure that cable resonances are avoided. The first of these is achieved by having an adequate ground plane for
the whole test area, and placing the EUT a defined distance (10cm) above this ground plane. The AE is also placed at this
file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 15/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

height if clamp injection is used. The ground plane is the reference for the applied voltage and so the CDNs and EM­clamp
must be fully bonded to it, preferably by direct bolted fixing. Since the test extends up to 80MHz, any inductance in this
bond is unacceptable. The ground plane itself need not be externally grounded for EMC purposes, but it is advisable to
connect it to the facility earth for safety.
 

 
Cable resonances are potentially serious: a distance of a quarter wavelength transforms a short­circuit impedance into an
open  circuit,  completely  altering  the  coupling  properties  of  the  setup.  A  quarter  wavelength  at  80MHz  is  94cm  and
therefore no cables included in the test environment should approach this length, even if they are not being tested. The
standard insists that on the tested cables, the coupling/decoupling devices should be between 10 and 30cm from the EUT
and  the  cables  themselves  should  be  maintained  3­5cm  above  the  ground  plane,  as  short  as  possible  and  un­bundled.
When you are using the current injection probe, the cable length on the other side of the probe (the AE side) should also
be less than 30cm.
 
If there are multiple cable ports on the EUT, only a limited number need be tested, exciting between 2 and 5 current paths
through  the  EUT.  The  most  sensitive  configurations  should  be  selected,  although  no  guidance  is  given  as  to  how  to
determine  these.  Other  cables  should  be  disconnected  or  isolated  with  decoupling  networks.  Each  CDN  or  other
transducer associated with the EUT is tested with injected RF in turn, while each of the other CDNs associated with the
EUT are terminated in 50. When several cables are loomed together in the normal installation, they can be treated as
one  cable  for  the  purposes  of  testing.  Separate  earth  ports  on  the  EUT  are  treated  like  any  other  cable  port  and  also
tested, most easily with a one­line CDN.
 
Hand­held devices and keyboards need to be tested with an artificial hand, which is a simple RC network simulating hand­
to­ground impedance. EUTs consisting of several interconnected units should be tested by considering each sub­unit as
an EUT in its own right, with all other parts treated as AE. But if the interconnecting cables will always be less than 1m
they can be treated as internal and left untested, the component sub­units of the EUT being grouped together and close to
each other on the 10cm insulating support, with only the “external” cables subject to testing.
 
5.8         References
 
[1]  “EMC  Testing  Part  1  –  Radiated  Emissions”  Keith  Armstrong  and  Tim  Williams,  EMC  Compliance  Journal  February
2001,  pages  27­39.  (Also  includes  Part  0.)  Available  on­line  at  www.compliance­club.com  (using  the  site’s  Archive
Search facility).
[2]  “EMC Testing Part 4 – Radiated Immunity” Keith Armstrong and Tim Williams, EMC Compliance Journal, August 2001
pages 22­32 and continued in the October 2001 issue. On­line at www.compliance­club.com (using the site’s Archive
Search facility if necessary).
[3]    EN  61000­4­6,  Electromagnetic  Compatibility  (EMC)  –  Part  4:  Testing  and  measurement  techniques  –  Section  6:
immunity to conducted disturbances, induced by radio­frequency fields.
[4]    “Economic  susceptibility  testing”,  Nigel  J  Carter,  IEE  Colloquium  on  Low  Cost  EMC  Testing,  21st  September  1993,
Digest Reference No. 1993/169.
[5]    “EMC  testing  Rover  cars”,  Robert  Ball,  Paul  Jennings  and  Peter  Lever,  IEE  Engineering  and  Science  Journal
December 1992, pages 261­266.
[6] “Autoprofiling – saving time in RF immunity testing”, Peter Lever, Robert Ball and Paul Jennings, IEE Colloquium on
Low Cost EMC Testing, 21st September 1993, Digest Reference No. 1993/169, pages 4/1 to 4/5
[7] “Desk­top Immunity Testing and Diagnostics” Richard Marshall, IEE Colloquium on ‘In­House EMC Measurements and
Diagnostics’, Savoy Place London 14th November 2000, IEE Reference: 00/092 (sales@iee.org.uk)
[8]  “A new approach to coupling/decoupling networks for EMC testing” R C Marshall, York EMC ’99, July 1999.

file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 16/17
4/10/2017 EMC Testing ­ Part 5 ­ Conducted Immunity

[9]  “Subjecting failure modes in immunity tests to uncertainty analysis”. Brian Jones, The EMC Journal, June 1997, Pages
7­10.
[10]    “EMC Testing Part 3” Keith Armstrong and Tim Williams, EMC Compliance Journal, June 2001 pages 19­29. On­line
at www.compliance­club.com (using the site’s Archive Search facility if necessary).
[11]    “EMC for Systems and Installations”, Tim Williams and Keith Armstrong, Newnes, January 2000, ISBN 0­7506­4167­
3 (available from RS and Farnell).
[12]    “EMC testing on­site”, Dag Björklöf, Compliance Engineering magazine, September/October 1997, pages 73­79 in
their US edition, 41­45 in their European edition.
 
Eur Ing Keith Armstrong C.Eng MIEE MIEEE       
Partner, Cherry Clough Consultants, www.cherryclough.com, Associate of EMC­UK
Phone:  01457 871 605, Fax:  01457 820 145,
Email:  keith.armstrong@cherryclough.com
 
Tim Williams C.Eng MIEE
Director, Elmac Services, www.elmac.co.uk, Associate of EMC­UK
Phone: 01243 533 361, Fax: 01243 790 535,
Email: elmactimw@cix.compulink.co.uk
 
 

file:///D:/Dropbox/EMC_FastPass/App%20Notes/61000­4­6/Test%20procedure.htm 17/17